透射电镜迁移安装过程引起的不常见故障与对透射电镜分辨率高，是当今材料研究表征工具之一。因其能够同时获得样品形貌、化学成分、晶体学和微观结构等全方位信息，使其在材料研究领域的地位越来越稳固。特别是在微观颗粒材料、材料缺陷表证和实验验证中的应用尤为重要。带有各种分析功能的透射电子显微镜，更是受到材料学家的青睐。高角度环形暗场成像功能使透射电子显微镜应用更加广泛，不但可以对纳米颗粒材料形貌观测，粒度测量，成分分析，还可以进行原子尺度的元素分布分析。其获得的高分辨像(STEM)可以直接用于解释，所以在微观结构确定方面较传统的高分辨像(HRTEM)更具优势。
1透射电镜具有以下优势：
(1)相对于XRD衍射来说，电子衍射的散射能力远远大于X射线的散射能力，这为微小晶体结构的分析测试提供了有力的研究工具；
(2)透射电镜可以同时获得研究对象外形特征、原子排列信息、成分信息和晶体学结构信息最有效方法；
(3)利用会聚束电子衍射，可以获得样品的三维衍射信息，便于分析物相的点群、空间群的对称性；
(4)分辨率高。目前非球差矫正的HRTEM分辨率一般优于0．2Ilm：STEM模式下可达0．17nm，且可以对原子序数大于l3的原子直接成像；
(5)可以获得缺陷区域或纳米析出相原子排列的投影像；
(6)分析结果的数字化。采用新型CCD相机，其分辨率可达4008×2672，不但可以拍摄形貌像，也可以拍摄电子衍射；便于存储和分析。
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