HAST是Highly Accelerated Stress Test的简称，中文名为高加速应力试验（高加速温湿度应力测试）。是一种用于评估产品在高温、高湿以及高压条件下的可靠性和寿命的测试方法。
该测试通过在受控的压力容器内设定特定的温湿度条件，模拟产品在恶劣环境下的性能表现。HAST试验能够加速老化过程，如迁移、腐蚀、绝缘劣化和材料老化，从而缩短产品可靠性评估的测试周期，节约时间和成本。
HAST 有饱和和不饱和两种。前者通常在 121°C 和 100% RH 的条件下进行，而后者通常在 110、120 或 130°C 和 85% RH 的条件下进行。在电子元件通电的情况下进行的测试通常是不饱和类型。HAST 测试加速因子从几十到几百倍不等。这种加速使得检查故障模式变得很重要。
此方法广泛应用于PCB、IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等行业，用于评估产品的密封性、吸湿性及老化性能。HAST已成为某些行业标准，特别是在PCB、半导体、太阳能、显示面板等产品中，作为高温高湿测试的快速有效替代方案。