求助光学双折射测定的是什么取向度

光学双折射测定的是入射光线与晶体表面所呈现位传导性（OpticalIsotropy）的取向度，通常表示为φ和Ω。φ表示入射光线与晶体表面的夹角，Ω表示入射光线与晶体轴方向的夹角。经过双折射可以测定该晶体的取向度，可以应用于许多重要的物性测量，如压电性、热电性和磁性等。通过光学双折射测定取向度还可以用来检测零界面的位置，从而确定晶体结构；也可以测定晶体中的有序缺陷以及弱相互作用。