pct试验箱技术参数 ：
试验箱尺寸：直径30cmx深度50cm/直径35cmx深度50cm，圆型试验室
全机外尺寸(请以实际尺寸为准)：900x800x900cm(W*D*H)
内桶材质：不锈钢板材质#SUS-316制
外桶材质：不锈钢板材质#SUS-304制天
内箱尺寸(mm)Φ300×D500
外箱尺寸(mm)W560×H450×D850
温度范围100℃——132℃
湿度范围100%RH饱和蒸气
压力范围：环境大气压+0——4kg/cm2
循环方式：水蒸气自然对流循环

PCT试验箱控制系统：
1. 微电脑LED数字式温控仪 + LED数字式时间控制器 + 指针式压力显示表.
2. 本系统符合高压加速老化试验之可靠度试验规格 : CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、 NACE、UL、MIL…
3. 控制方式 : 微电脑 + P.I.D. + S.S.R自动演算智能式控温方式.
4. 温度控制精度 : (+/-)0.5℃
5. 温度解析精度 : 0.1℃
6. 压力控制精度 : (+/-)0.2Kg/cm2

PCT试验箱在操作时要注意以下几个细节：
（1）PCT老化试验箱使用干布擦拭仪表，不要使用酒精、汽油或其他有机溶剂，不要把水溅到仪表上，如果仪表浸入水中，请立即停止使用，否则有漏电、触电或火灾的危险。
（2）PCT老化试验箱在运转中，进行修改设定、信号输出、启动、停止等操作之前，应充分地考虑安全性，错误的操作会使工作设备损坏或发生故障。
（3）加水至水箱时请勿超过水位高度70%的水位线，以免造成箱内回水无法干燥;且在加水时速度不宜过快,以免水溢出浸湿电子部件而导至机器故障

PCT试验箱和HAST的区别
很多客户都在询高温高湿高压加速老化试验/高温蒸煮试验设备时，都分不清自己要的是PCT还是HAST，只知道是要高温高湿高压的实验设备，其他的客户并不清楚，接下来就需要艾司荔专业人员来给客户一一解释。
加速老化试验PCT/HAST分为饱和性和非饱和性。
PCT试验箱属于饱和性，湿度默认100%，且温度，湿度，压力同时上升或下降，用于测试IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料等产品的密封性能和老化性能。
HAST属于非饱和性，温度，湿度（70%~100%），压力可调，可做高温高湿，高低温循环，双85，双95，高温高湿高压等测试，也叫做全能型老化测试设备，也是用于测试IC封装，半导体，微电子芯片，磁性材料等产品的密封性能和老化性能。

PCT试验箱PCT-35多少钱

pct试验箱安全保护装置编辑
　　A、误操作安全装置：高压加速老化试验箱锅门若未关紧则机器无法启动.
　　B、超压安全保护：当锅内压力超过工作值自动排气泄压.
　　C、超温保护：当锅内温度过高时机器鸣叫警报并自动切断加热电源.
　　D、防烫伤保护：特制材质制成可防止操作人员接触烫伤.
　　E、手动安全保护排压伐.

PCT试验箱，高压加速老化试验箱，高压高温蒸煮老化试验箱，HAST老化试验箱

PCT试验箱控制系统：
1. 微电脑LED数字式温控仪 + LED数字式时间控制器 + 指针式压力显示表.
2. 本系统符合高压加速老化试验之可靠度试验规格 : CNS、ISO、JIS、ASTM、DIN、BS、IEC、 NACE、UL、MIL…
3. 控制方式 : 微电脑 + P.I.D. + S.S.R自动演算智能式控温方式.
4. 温度控制精度 : (+/-)0.5℃
5. 温度解析精度 : 0.1℃
6. 压力控制精度 : (+/-)0.2Kg/cm2

PCT试验箱控制系统：
1.5.7寸真彩触摸薄屏
2.两种控制方式：程序/定值
3.传感器类型：两路PT100输入（可选电子传感器输入）
4.温度测量范围：-90.00℃--200.00℃，（可选-90.00℃--300.00℃）误差±0.2℃；
5.压力测量范围：0--100kPa；
6.通讯界面：（RS232/RS485，通讯长距离1.2km[光纤可达30km]）；
7界面语言类型：中文/英文
8.具备汉字输入功能
9.程序编辑：可编120组程序，每组程序大可编100段；
10.产品显示清晰直观立体感强，可程序设计控制系统操作灵活方便，性能稳定，工作更；
11.控制物件:微电脑+P.I.D.+S.S.R自动演算控制饱和蒸气温度.
12.温度控制精度:(+/-)0.5℃.
13.解析精度:0.1℃.
14.压力控制精度:(+/-)0.15KG.
㈡、循环方式：水蒸气自然对流循环方式
㈢、温度感应器：（RTD）PT-100Ω(铂金电阻)
㈣、加温电热器：绝缘耐压型温度电热器

PCT试验箱艾思荔设备质量，性能怎样

pct试验箱质量、性能各方面值得信赖！

PCT试验箱也称高温蒸煮仪，厂家现货直销

PCT试验箱试验的目的：
是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷.等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。HAST高加速应力试验被广泛应用于国防、航天、汽车部件、电子零配件、塑胶、制药等行业相关之产品作加速寿命试验。当HAST试验应用于产品的设计阶段时,可以快速暴露产品的缺陷和薄弱环节，特别是线路板,多层线路板,IC半导体,LCD,磁铁等产品之密封性能的检测,测试其制品的耐压性,气密性。PCT试验结果能够分析出何时出现电子元器件和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因。

PCT试验箱用途：
主要应用于产品的研发阶段，能够及早发现产品可靠性的薄弱环节。其所施加的应力要远远高于产品在正常运输﹑贮藏﹑使用时的应力，因此能够提早使产品设计缺陷被激发出来，从而消除缺陷，大大提高设计可靠性。产品的设计周期大大减少。生产费用大大降低。因为交付的产品具备更高的可靠性，所以维修费用大大降低。

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